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介質(zhì)損耗測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào)：LD-JD2

生產(chǎn)廠家：LANENDE/萊恩德

介質(zhì)損耗測(cè)試儀廠家 [萊恩德科技] 擁有多年介質(zhì)損耗測(cè)試儀研發(fā)生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)，儀器操作簡(jiǎn)單，檢測(cè)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，生產(chǎn)廠家價(jià)格更優(yōu)惠，歡迎來(lái)電咨詢！

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簡(jiǎn)介

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)。通過(guò)測(cè)定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。

用途

該介質(zhì)損耗測(cè)試儀用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 1409-2006 測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

GB/T 1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法

ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法

GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法

測(cè)量范圍廣，采樣精度高，符合多標(biāo)準(zhǔn)，多參數(shù)顯示，操作簡(jiǎn)單。
DDS數(shù)字合成信號(hào)源，自動(dòng)扣除電感，自動(dòng)掃描諧振點(diǎn)。
LCD屏幕可顯示F，L，C，Q，Lt，Ct等參數(shù)，大電容值直接測(cè)量顯示，數(shù)顯微測(cè)量裝置，直接讀值。

信號(hào)源	DDS數(shù)字合成 10KHZ-110MHZ
采樣精度	11BIT
測(cè)量范圍	1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程
分辨率	0.1
測(cè)量工作誤差	<5%
電感測(cè)量范圍	分辨率 0.1nH
電感測(cè)量誤差	<3%
調(diào)諧電容	主電容 30-540pF
電容直接測(cè)量范圍	1pF～2.5uF
調(diào)諧電容誤差	±1 pF或<1% 0.1pF
諧振點(diǎn)搜索	自動(dòng)掃描
合格預(yù)置范圍	5-1000聲光提示
LCD顯示參數(shù)	F，L，C，Q，Lt，Ct等
介質(zhì)損耗系數(shù)精度	萬(wàn)分之一
介電常數(shù)精度	千分之一
材料測(cè)試厚度	0.1mm-10mm
獨(dú)有技術(shù)	儀器自動(dòng)扣除殘余電感和測(cè)試引線電感。大幅提高測(cè)量精度。大電容值直接測(cè)量顯示。數(shù)顯微測(cè)量裝置，直接讀值。